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CRF plasma 等離子清洗機

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濕法清洗和干法plasma清洗2種蝕刻方式優(yōu)缺點對比較

濕法清洗和干法plasma清洗2種蝕刻方式優(yōu)缺點對比較:
        濕法清洗系統(tǒng),適用于先進的無損兆聲清洗,可用于加工制造易損壞帶或無圖案的基板,包括帶保護膜的模板。為了保證基片不受損傷,達到良好的清潔效果,必須保持兆聲能量密度略低于樣片上任意位置的損傷閾值。濕法刻蝕技術(shù)使基片表面聲波能量均勻分布,提升了分布能量以支持理想清洗,并保證在樣片損傷閾值范圍內(nèi)。該系統(tǒng)具有重復(fù)性高,均勻度好,Z級先進的兆聲清洗功能,兆聲輔助下的光刻膠剝離和濕法刻蝕功能。本產(chǎn)品可按工藝步驟進行無損檢測、化學(xué)試劑清洗、刷子清洗、干燥等。
2種濕式和干式plasma清洗方式優(yōu)缺點對比比較:

plasma清洗

      濕法蝕刻系統(tǒng)是通過化學(xué)蝕刻液與被蝕刻物之間的化學(xué)反應(yīng)使其剝落的一種蝕刻方式。濕法蝕刻多為各向同性蝕刻,不易控制。
特點:適應(yīng)性強,表面均勻,對硅片的損傷小,幾乎適用于所有的金屬、玻璃、塑料等材料。
缺點:繪圖質(zhì)量不理想,繪圖中的小線難以把握。
干法蝕刻系統(tǒng)的蝕刻介質(zhì)是等離子體,它是利用等離子體與表面膜反應(yīng),產(chǎn)生揮發(fā)性物質(zhì),或直接轟擊膜表面使其蝕刻的過程。
特征性:能實現(xiàn)各向異性蝕刻,以保證細節(jié)轉(zhuǎn)換后圖像的保真性。
缺點:成本一般,且用于微流控芯片的制備較少。
       干式plasma清洗系統(tǒng)包括:用于容置電漿用的空腔;空腔上方的石英盤;石英盤上方的多個磁體;旋轉(zhuǎn)機構(gòu),它帶動多個磁體旋轉(zhuǎn),其中多個磁體產(chǎn)生與該磁體一起旋轉(zhuǎn)的磁場。通過進一步提高粒子的碰撞頻率,可以獲得佳的電漿均勻性,提高等離子濃度。


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